当社の製品はこんな箇所で使用しております。製品情報の参考にご覧ください。
半導体前工程検査において、エリアアレイにも対応した挟ピッチ垂直型プローブカードを提案いたします。
検査使用機材
検査対象


製品に関する詳しい情報はこちら>> 挟ピッチ垂直型プローブ
半導体後工程のパッケージ検査において、お客様のニーズに合わせたカスタマイズソケットを提案いたします。
検査使用機材
検査対象


製品に関する詳しい情報はこちら>> ICソケット-各種商品一覧
液晶パネルの点灯検査において、パネルの仕様に合わせた様々な治具を提案いたします。
検査使用機材
検査対象


製品に関する詳しい情報はこちら>> 液晶検査商品一覧
基板、コネクタ、ディスクリート部品などの電子部品の検査においてお客様のニーズに合わせた様々な治具を提案いたします。
検査使用機材
検査対象


製品に関する詳しい情報はこちら>> 治具-各種商品一覧
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