任何探针卡、IC测试插座等测试设备的制作，都可联系我们。向着未来勇往直前的创新型企业

在WL-CSP的测试中，IC测试插座多年积累的对焊球的接触技术也运用到了探针卡的制作上。
利用独创的先进涂层技术阻止了焊料附着，从而实现可靠的测试。
而且不仅可以进行单点接触，也可进行开尔文接触。
通过应用IC测试插座／探针制作厂家的专有技术，满足用户的各种需求。