任何探针卡、IC测试插座等测试设备的制作，都可联系我们。向着未来勇往直前的创新型企业

针对随着LCD、EL性能的提高间距越来越窄的电极，精研的NICRO CUBE可保证稳定的点灯测试。
MICRO CUBE 是一种将独创形状的端子装配在陶瓷体中的垂直式击针保险（Pin block）。
独创的接触端子和超微精细加工技术，保证产品适用于“千鸟20um”“串联40um”窄间距。
除此之外，探针每1根都相对独立并具有弹性，可对全部电极均匀接触，而且每1根探针都可单独维修更换。

另外，我们还经营装载有MICRO CUBE的测试装置。
除面板单体以外，还经营模块化后的点灯测试夹具。