任何探针卡、IC测试插座等测试设备的制作，都可联系我们。向着未来勇往直前的创新型企业

采用具有独创构造的TUBE LESS探针，适用于窄间距的夹具。
TUBE LESS探针通过采用弹簧上无带顶端管的独创构造，可适用于高密度的测试头。（有格子间距P=150um 4000根的实绩）
另外，采用独创的弹簧，不仅适用于窄间距，同时可实现100万次的耐用寿命。
不仅用于TAB的批量生产，还可用于高密度基板等各种器件的测试。

种类齐全的探针产品系列、多年来夹具制作中积累的专有技术，产品可满足各种电子零部件的测试要求。
所以，任何需要使用探针进行接触测试的业务都可联系我们。