製品情報特注品
テスト環境に合わせて、最適なプローブ
精研は、標準品として片側可動プローブをカタログにてご提供しておりますが、検査装置や検査対象の仕様に合わせると、既存品では十分な性能を発揮できない場合がございます。そこで、様々な検査のため、プローブをはじめ、ICソケット、プローブカードや検査治具など、用途や環境に合わせた最適なプローブをご提案・製作いたします。既存品の一部パーツのみの変更はもちろん、すべてのパーツを新規に製作することも可能です。さらに、他社製品が生産中止となった場合の互換品や代替品としても、対応いたします。
検査製品や装置条件に合わせたカスタマイズの方法
検査製品に合わせた外形変更
カスタマイズオプションで
最適なプローブ
お客様のニーズに応じ、プランジャーの先端形状変更、出量調整、パイプ長の変更、荷重の調整など、あらゆる仕様にフィットするプローブを提供します。
高精度合金＆表面処理技術で
接触不良減少
検査環境に合わせた最適な合金や表面処理技術を採用することで、接触不良や摩耗の問題を改善します。
精密加工技術で
狭ピッチ・微細接触対応
狭いピッチや微細な接触部位にも対応できるよう、精密加工技術を駆使して、従来では実現が難しかった寸法・荷重の最適化を提案します。
環境に最適なプローブ材質の選定で、検査性能を最大化
検査環境や測定条件に応じて、プローブの材質を適切に選定することは、接触不良の改善や長期的な安定動作の鍵となります。例えば、耐久性が課題となる場合には、プランジャーの材質や表面処理を変更することで寿命を延ばすことが可能です。ただし、抵抗値の上昇など副次的な影響も考慮する必要があります。優先する検査仕様に応じて最適な材質を選定することが、信頼性と性能の両立につながります。
| 検査環境 | 目的・要求仕様 | 推奨される対策 |
|---|---|---|
| 大電流環境 | 高電流を流す検査を行いたい |
|
| 非磁性環境 | 磁性の影響を排除したい |
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| 低抵抗検査環境 | 抵抗値のバラつきを抑え、高精度測定を実現 |
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| 鉛フリーはんだとの接触 | はんだの転写を防ぎ、接触不良を防止 |
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| 高温環境 | 高温下でも安定した測定がしたい |
あらゆる検査条件に対応するために、最適な材質と構造の選定をご提案します。ご不明な点があれば、ぜひお問い合わせください。
課題解決例
コンタクトプローブの接触不良は、検査現場でよくあるトラブルです。以下は、主な原因と考えらる対策例です。お客様の環境に合わせた最適なソリューションを提供し、検査精度と生産性の向上を実現します。
荷重の不足
- 課題
プローブ内の接点が弱く、荷重が不足しているため、酸化膜が十分に破れず抵抗値が高くなります。
- 対策
カスタムバネで荷重を強化するほか、熱でバネ荷重が低下している場合はSUS系バネへの変更で安定性を向上できます。
先端の変形
- 課題
硬い端子に連続して接触すると、先端が摩耗し、クラウンやニードル形状でも刺さりにくくなります。
- 対策
SK材など高硬度の材質を選定し、先端形状を最適化することで、接触圧と耐摩耗性を改善できます。
先端の変質
- 課題
使用によりメッキが剥がれ、プランジャーの母材が酸化して抵抗値が上昇します。
- 対策
酸化に強い合金に変更し、はんだ転写にも強い素材を採用できます。さらに、CNTメッキなどで許容電流値を向上させるとともに、定期的なクリーニングでごみ付着を防止できます。
用途例
もっと見る
- 各種デバイス検査
- 研究開発向け試作
- プロービングが必要な検査 など
ボードも含めた治具製作で要求仕様を満たす
精研では、プローブピン単体だけでなく、ボードを含む治具全体の設計・製作も承っております。例えば、大電流検査の場合には、プローブの材質を変更するだけでなく、金属ボードへの組み込みによって、さらに大きな電流に対応できる治具を実現しております。
また、高周波検査向けには同軸構造を採用したボード設計により、仕様要求を満たす実績があります。狭いピッチで使用する両端プローブについても、ボード加工から組立までワンストップで対応可能です。検査・プロービングの悩み、解決します。お気軽にご相談ください。
