製品情報ケルビンプローブカード

四端子測定のソリューション

ケルビンプローブカードは、四端子測定法(ケルビン接続測定)を採用し、対象デバイスの真の抵抗値を高精度に測定します。四端子測定法を用いることで、電流(Force回路)と電圧(Sense回路)を独立して測定し、接触部の抵抗の影響を排除できます。これにより、対象デバイスの本来の抵抗(Rs)を正確に測定することが可能です。ケルビン測定では、1つの電極(はんだバンプ、パッドなど)に対して2端子を接触させる必要があります。
ケルビン測定は、電極ピッチP=0.35mm~に対応可能です。2端子間のギャップは0.1mmまで詰めることができるため、極小電極にもコンタクトできます。このケルビン測定用プローブは、特許(5597108号)を取得しています。

ポイント:ケルビンプローブを使用する際に必要な特殊ボード加工についても、お客様の測定機器に合わせた専用治具の設計・製作をワンストップで行っています。最適なプローブと治具の組み合わせをご提案し、精密かつ効率的な測定をサポートいたします。

ケルビンプローブカードの製品写真

特長と強み

01 極小電極にも確実コンタクト

電極サイズの縮小に対応し、φ180μmの極小バンプにも確実にコンタクトできる設計を実現しています。

02 自由自在なピン配置、柔軟設計で多チップ測定も対応

一般的なアドバンスト型プローブカードと同様に、ピッチ条件を満たせばピン配置に制限はありません。ピッチ条件を満たす限り、1チップあたり100~1000個の電極や、複数チップの同時測定にも柔軟に対応します。

プローブヘッドの写真

03 簡単ピン交換&高メンテナンス性

ピン交換も従来通りアドバンスト型プローブカード同様に簡単に行え、メンテナンス性も優れています。

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