製品情報高周波技術

低インダクタンスで実現する検査ソリューション
高周波測定において求められるのは、低インダクタンスです。ピン全長が短ければ短いほど低インダクタンスとなるため、極小部品の切削・組立技術を駆使し、全長1.2mmという短寸法の両端プローブを実現しました。非常に短いながら、一般の両端プローブと同様の構造と扱いが可能です。
さらに、P=0.3対応の狭ピッチ化を達成することで、微細な検査対象にも最適なソリューションを提供いたします。


特長と強み
01 低インダクタンス特性の実現
極小部品の切削、組立によりL=1.2を達成しました。これにより低インダクタンス特性を発揮します。
02 多様な先端形状と最適合金による優れた接触性
ニードル、クラウン、アールなど、検査対象に合わせた先端形状を選択可能です。また、はんだへの接触性に優れた合金も採用でき、最適なコンタクトを実現します。
用途例
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- 高周波デバイス全般