半導体向け
SEMICONDUCTOR
マイクロキューブ(板バネ)タイプのプローブを使用したプローブカード・ICソケットです。
プローブ1本あたりの許容電流に優れます。
対応ピッチ 0.3 | 対応ピッチ 0.4 | |
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許容電流(樹脂/金属) | 25A / 40A | 50A / 75A |
通常は樹脂ハウジングに端子を立てますが、エミッタ電極など同電位で大電流を流す部分はハウジング自体を金属に変えることができます。 端子にかかる電流や熱を金属ハウジングに逃がすことにより、端子の劣化(荷重低下等)を押さえることが出来ます。
隣接するエミッタとゲート用の端子は樹脂と金属のハウジングを組み合わせることにより個別に信号を取り出すことも出来ます。
検査対象は主にダイオード向けとなります。
配置方法に制限はありますが1×8といった多個測の測定が可能です。
ソケットはトランジスタ、SOP、QFN、モジュールといったテスト向けです。
電極が周辺配列のものに採用ができます。
精研では検査内容に合わせて、MCプローブタイプ(板バネ)、スプリングプローブタイプなど、
最適なテストソリューションをご提示させていただきます。お気軽にご相談ください。