半導体向け
SEMICONDUCTOR
半導体向け
SEMICONDUCTOR
弊社独自の板バネを使った大電流デバイスの検査に適したプローブカード・ソケットです。
１端子当たりの許容電流に優れます。
| 対応ピッチ 0.3 | 対応ピッチ 0.4 | |
|---|---|---|
| 許容電流（樹脂/金属） | 25A / 40A | 50A / 75A |
通常は樹脂ハウジングに端子を立てますが、エミッタ電極など同電位で大電流を流す部分はハウジング自体を金属に変えることができます。 端子にかかる電流や熱を金属ハウジングに逃がすことにより、端子の劣化（荷重低下等）を押さえることが出来ます。
隣接するエミッタとゲート用の端子は樹脂と金属のハウジングを組み合わせることにより個別に信号を取り出すことも出来ます。
検査対象は主にダイオード向けとなります。
配置方法に制限はありますが1×8といった多個測の測定が可能です。
ソケットはトランジスタ、ＳＯＰ、ＱＦＮ、モジュールといったテスト向けです。
電極が周辺配列のものに採用ができます。
通常ラインナップにおいてはデバイスに合わせた専用設計をしております。この商品を少しでもリーズナブルにお使いいただくためにプローブカード、ICソケットのコアとなるHC-Cブロック単体を標準規格品として販売をしております。ブロック単体は長辺方向でも10㎜程度とコンパクトでありながら、大電流端子を8本実装することにより、1ブロック当たり400Aの通電が可能です。
このブロックを測定したいデバイスにユーザー様で自由にアレンジしてお使いいただけます。
※各ブロックの固定はユーザー様にて設計
事例として、パワーモジュールのリード部に配置可能です。リードの長さにもよりますが、汎用型MCブロックを2個並べることにより、800Aの印加も可能です。
従来、このデバイスはソケットへの差し込み式が多いですが、ソケットが規格品のため、規格外のリードピッチを持つデバイスに対応できないことがあります。この汎用型MCブロックであれば、レイアウトを自由に決められるので検査ができるようになります。
この汎用型MCブロックを使ったプローブカードやICソケットを精研でデザインしてご提供することも可能です。
精研では検査内容に合わせて板バネを使ったＨＣ－Ｃ（ＨｉｇｈＣｕｒｒｅｎｔ Ｃｕｂｅ）、スプリングプローブタイプなど最適なテストソリューションを提案いたします。お気軽にご相談 ください。
