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コンタクトプローブ 特注品

カタログ品に掲載のないプローブを製作

弊社では標準品プローブとして、片側可動のプローブをカタログ品として取り扱っております。目的とする形状のプローブがカタログ品の中で見つかるのが最善ですが、電気検査に使用される装置に合わせようとすると、仕様を満たせないことがあります。

両端プローブにつきましては、お客様の装置に合わせることを前提としてプローブを製作いたしますので標準のカタログ品がほとんどありません。

お客様が検査したい製品や装置条件に合わせて、既存のプローブをご提案も致しますが、合うプローブがない場合には特注で製作いたします。半導体検査で使用するプローブカードICソケットでは新規製作をする場合が多いです。

既存のプローブをベースに部分的にパーツを新規製作することをはじめ、すべてのパーツを新規で製作も可能です。そのため、他社プローブメーカーで製作したブローブが生産中止になってしまったなどで代替品・互換性のあるプローブが必要な場合にはご協力できることがございます。

環境に応じたプローブ変更

物理的な調整

一番多いカスタム品製作はプローブの外形変更です。例えば、検査対象に合わせてプランジャーの先端形状を変更する、検査装置に合わせるために全長が短いプローブ(または長い)を製作することができます。荷重を変更したい場合はバネを新規製作することで解決できますが、荷重を強くする場合にはプランジャーの出量を減らし、バネ長を少しでも長くすることもあります。

  • ・プランジャーの形状変更、出量調整
  • ・パイプの長さ調整(全長を大きく変更したい場合)
  • ・荷重の調整
  • 環境に応じた材質変更

    検査の環境においてはプローブの材質を適切なものに変更することで接触不良の改善や検査要求を満たすことができる場合があります。例えば、耐久性が悪い場合にはプランジャーの材質や表面処理を変更することで持ちがよくなることがあります(一方で抵抗値が高くなるなどのデメリットが発生する場合があります)。優先したい条件に合わせてプローブの材質も選定することが大切です。

    検査環境 検査で求める仕様例 対策
    大電流環境 一本当たりの許容電流を大きくして、大電流の検査を行いたい CNTメッキ
    非磁性環境 プローブが磁性を持ってはいけない検査を行いたい 非磁性材質に変更
    多コンタクト環境 とにかく検査数量が多いため交換頻度を減らしたい 硬度の高い材質に変更
    低抵抗検査環境 プローブの抵抗値のバラつきを抑え、低抵抗で測定したい 特殊なパーツを追加
    鉛フリーはんだへのコンタクト はんだの転写を抑えて、接触不良を改善したい プランジャーを合金に変更
    高温検査環境 高温環境下においても安定した抵抗値で測定したい バネの材質を変更

    ボードも含めた治具製作で要求仕様を満たす

    材質等の見直しによってプローブピンだけで検査要求の水準を満たす方法もありますが、プローブピンを組み込むボードの構成によってもより難易度の高い要求を満たすこともできます。例えば、大電流検査の場合にはプローブの材質を変更して1本あたりの許容電流を大きくするだけでなく、金属のボードに組み込むことによってさらに大きな電流に対応できる治具にできます。高周波検査においても同軸構造になるようにボードを設計し仕様要求を満たす実績もあります。

    狭いピッチで使用する両端プローブは、使い方を含めてある程度のノウハウが必要となります。プローブだけでなく、そのプローブを組み込むボード加工から組立までを弊社で承ることが可能です

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