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精研の提案するコンタクトプローブ

精研では以下のような技術を開発しております。
コンタクトプローブとは

コンタクトプローブとは

コンタクトプローブ(ポゴピン、探針などとも言います。)は電子部品の導通検査などに使われてきました。
構造はパイプの中にバネが入っており、先端(=プランジャー)がストロークすることにより検査対象の電極に適切な荷重と接触を行い電気的な検査を行います。

コンタクトプローブとは

電気検査は単純なオープン(断線)/ショート(短絡)なものから電流を流したり高周波測定をしたりなど多岐に渡っています。
また検査内容以外に検査対象も多岐に渡っています。
半導体であればウェハーの前工程(WL-CSP、FlipChip等々)、パッケージ(BGA、CSP、QFN、SON等々)された後工程で使われます。
他にも液晶の出荷検査で点灯検査、生基板、実装基板の導通検査、コンデンサ、センサーなどの部品、電池の充放電などあります。
そしてこれらの検査内容と検査対象の安定した評価を実現するためには高度な加工、様々な材質、表面処理を適切に施すノウハウが必要です。
なお、弊社の各種技術は単独で使うだけなくそれぞれ組み合わせて使うことが出来ます。
例えば非磁性で鉛フリー電極に強く、ケルビン測定が出来ることなどが挙げられます。

この部品こそ実際に検査対象に触れるものであり、どんなに素晴らしい測定器や装置を持っていたとしてもコンタクトプローブが無ければ検査は成り立ちません。
コンタクトプローブこそが精研のコアコンピタンス(企業の核となる能力)になります。
その技術を礎にプローブカードを始めとするさまざまな製品ラインナップでユーザー様のお役にたちます。

コンタクトプローブの課題

コンタクトプローブには以下のような課題があります。

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弊社プローブは対応ピッチ(ピンを並べて立てる時に最低必要な距離。2本のピンの中心の距離=ピッチ)ごとのラインナップになっております。

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