半導体向け
SEMICONDUCTOR
半導体向け
SEMICONDUCTOR
WL-CSPなどのケルビン測定については電極ピッチP=0.3mmに用いる極細プローブとP=0.4mmに用いる新型ケルビンプローブの2品種のピンを取り扱っています。
P=0.3mmの極細プローブはこのクラスの挟ピッチ商品にコンタクトさせることを重視、P=0.4mmの新型ケルビンは独自技術で2ピン間のギャップを詰めながらもピン自体は太めに設計することにより荷重の確保や許容電流の性能向上を実現いたしました。
垂直に稼働するコンタクトプローブなどを用いたアドバンスト型はピッチさえ満たせばカンチレバーのようにピン配置に制限がありません。
1つのチップに数百数千の電極があるチップ、数十数百個同時測定など柔軟に対応出来ます。
また、プローバーでの運用以外にプローブカードをマニュアルでチップを1個ずつ測定出来るICソケット化するオプションもご用意できます。□1mm以下のチップサイズでも対応出来ます。
そしてカード部分だけでなくご要望に応じて弊社で中継基板の手配から部品実装の配線まで一貫して承ります。
